产品简介
产品用途 |
对STM32-QFP176封装的芯片进行测试、编程 |
适用型号 |
STM32 QFP176封装:
- STM32F2xxI系列(如:STM32F207IG,STM32F217IG)
- STM32F4xxI系列(如:STM32F407IG,STM32F417IG)
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特点 |
- 以排针方式引出芯片所有引脚,引脚间距为2.54mm(100mil)
- 板载JTAG、SWD、UART1接口,可直接对相关型号进行测试、烧写
- 板载高速外部晶振插座(晶振可自定义)
- 板载低速外部晶振(32.768K)
- 板载两个LED,可用于测试状态指示(可跳开跳线,不占用I/O资源)
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[ STM32-QFP176 专用测试座简介 ]
- JTAG/SWD接口
兼容ST-LINK / J-LINK / ULINK2 / STX-RLINK
- UART1接口
可用于ISP下载或串口信息调试
- LED
可用于测试状态指示
- MCU引脚排针
对引脚进行标识,方便测试
- BOOT0/BOOT1跳线
可通过跳线选择,采用3种启动方式启动STM32
- 3.3V稳压芯片
板载AMS1117-3.3
- 5V电源输入接口
可通过圆形接口或2PIN接口接入5V电源
- 晶振插孔
接入两侧圆孔(中间孔悬空)
- 电源LED
- LED跳线端口
短接:可使用LED进行测试状态指示,占用I/O
跳开:不可使用LED进行测试状态指示,不占用I/O
- 32.768K晶振
可供内置RTC使用,或用以校准。
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规格尺寸
QFP176 编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
单位: mm
型号 |
引脚间距 |
引脚数 |
适用IC尺寸 (参考) |
外型尺寸 (参考) |
本体
A x B |
含引脚
C x D |
钳位宽度
E |
1/2 IC 高度
F |
G x H |
IC51-1764-1505-5 |
0.5 |
176 |
24 × 24 |
26 × 26 |
25.3 |
- |
46 × 50 |
示意图
(仅供参考,详细数据请查看编程座PDF及实物) |
产品图片
STM32-QFP176 /测试座实物图片:
编程接口定义
STM32-QFP176 /测试座板载JTAG/SWD标准编程接口,引脚定义如下所示:
20-pin JTAG/SWD接口定义
启动模式配置
BOOT接口配置