产品简介
| 产品用途 | 对STM32-QFP176封装的芯片进行测试、编程 |
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| 适用型号 | STM32 QFP176封装：
- STM32F2xxI系列（如：STM32F207IG，STM32F217IG）
- STM32F4xxI系列（如：STM32F407IG，STM32F417IG）
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| 特点 | - 以排针方式引出芯片所有引脚，引脚间距为2.54mm（100mil）
- 板载JTAG、SWD、UART1接口，可直接对相关型号进行测试、烧写
- 板载高速外部晶振插座（晶振可自定义）
- 板载低速外部晶振（32.768K）
- 板载两个LED，可用于测试状态指示（可跳开跳线，不占用I/O资源）
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[ STM32-QFP176 专用测试座简介 ] - JTAG/SWD接口
兼容ST-LINK / J-LINK / ULINK2 / STX-RLINK - UART1接口
可用于ISP下载或串口信息调试 - LED
可用于测试状态指示 - MCU引脚排针
对引脚进行标识，方便测试 - BOOT0/BOOT1跳线
可通过跳线选择，采用3种启动方式启动STM32 - 3.3V稳压芯片
板载AMS1117-3.3 - 5V电源输入接口
可通过圆形接口或2PIN接口接入5V电源 - 晶振插孔
接入两侧圆孔（中间孔悬空） - 电源LED
- LED跳线端口
短接：可使用LED进行测试状态指示，占用I/O
跳开：不可使用LED进行测试状态指示，不占用I/O - 32.768K晶振
可供内置RTC使用，或用以校准。
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规格尺寸
QFP176 编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：
单位: mm
| 型号 | 引脚间距 | 引脚数 | 适用IC尺寸 (参考) | 外型尺寸 (参考) |
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本体
A x B | 含引脚
C x D | 钳位宽度
E | 1/2 IC 高度
F | G x H |
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| IC51-1764-1505-5 | 0.5 | 176 | 24 × 24 | 26 × 26 | 25.3 | - | 46 × 50 |
示意图
(仅供参考，详细数据请查看编程座PDF及实物) |
产品图片
STM32-QFP176 /测试座实物图片：
编程接口定义
STM32-QFP176 /测试座板载JTAG/SWD标准编程接口，引脚定义如下所示：
20-pin JTAG/SWD接口定义
启动模式配置
BOOT接口配置
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