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EEPROM 数据存储器 | ATmega128包含4K字节的EEPROM。它是作为一个独立的数据空间而存在的,可以按字 节读写。EEPROM 的寿命至少为100,000 次(擦除)。EEPROM 的访问由地址寄存器, 数据寄存器和控制寄存器决定 具体的SPI 和JTAG 下载EEPROM 数据请分别参见P 267“ 存储器编程” 。 |
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EEPROM 读/ 写访问 | EEPROM 的访问寄存器位于I/O 空间。 EEPROM 的写访问时间由Table 2 给出。自定时功能可以让用户监测何时开始写下一字 节。如果用户要操作EEPROM,应当注意如下问题:在电源滤波时间常数比较大的电路 中,上电/ 下电时VCC 上升/ 下降速度会比较慢。此时CPU 将工作于低于晶振所要求的 电源电压。请参照 P 22 “ 防止EEPROM 数据丢失” 以防止如何在此时出现EEPROM 的 数据丢失问题。 为了防止无意识的EEPROM 写操作,需要执行一个特定的写时序。具体参看EEPROM 控制寄存器的内容。 当执行EEPROM 读操作时, CPU 会停止工作4 个周期,然后再执行后续指令;当执行 EEPROM 写操作时, CPU 会停止工作2 个周期,然后再执行后续指令。 |
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EEPROM 地址寄存器-EEARH 和EEARL |
• Bits 15..12 – Res: 保留 |
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EEPROM 数据寄存器- EEDR |
• Bits 7..0 – EEDR7.0: EEPROM 数据 |
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EEPROM 控制寄存器- EECR |
• Bits 7..4 – Res: 保留 在CPU 写Flash 存储器的时候不能对EEPROM 进行编程。在启动EEPROM 写操作之 前软件必须要检查 Flash 写操作是否已经完成。第二步仅在软件包含引导程序,允许CPU 对Flash 进行编程时才有用。如果CPU 永远都不会写Flash,则第二步可以忽略。请参 考P 255“ 支持引导装入程序 – 在写的同时可以读(RWW, Read-While-Write) 的自我编程 能力” 。 注意: 如有中断发生于步骤5 和6 之间将导致写操作失败。因为此时EEPROM 写使能操 作将超时。如果一个操作EEPROM的中断打断了另一个EEPROM操作,EEAR 或EEDR 寄存器可能被修改,引起EEPROM 操作失败。建议此时关闭全局中断标志I。 经过写访问时间之后, EEWE 硬件清零。用户可以凭此位判断写时序是否已经完成。 EEWE 置位后, CPU 要停止两个时钟周期才会运行下一条指令。 • Bit 0 – EERE: EEPROM 读使能 用户在读取EEPROM 时应该检测EEWE。如果一个写操作正在进行,就无法读取 EEPROM,也无法改变寄存器EEAR。 标定振荡器用于EEPROM 访问定时。Table 2 为CPU 访问EEPROM 的典型时间。 Note: 1. 使用的是1 MHz 的时钟。与熔丝位CKSEL 的设置无关。 下面的代码分别用汇编和C 函数说明如何实现EEPROM 的写操作。在此假设中断不会在 执行这些函数的过程当中发生。例子同时还假设软件没有引导程序。若引导程序存在,则 EEPROM 写函数还需要等待正在进行的SPM 命令的结束。
下一个代码例子说明如何用汇编和C来读取EEPROM在此假设中断不会在执行这些函数 的过程当中发生。
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掉电休眠模式下EEPROM 的写 入 | 当EEPROM 执行写操作时进入掉电休眠模式, EEPROM 写操作继续,并在写访问时间 结束前完成。 但写操作结束后,振荡器继续工作,因此器件无法完全进入掉电模式。因此 建议在进入掉电模式前检验EEPROM 写操作是否完成。 |
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防止EEPROM 数据丢失 | 由于电源电压过低,CPU 和EEPROM 有可能工作不正常,造成EEPROM 数据的毁坏( 丢失)。这种情况在使用独立的EEPROM 器件时也会遇到。 由于电压过低造成EEPROM 数据损坏有两种可能:一是电压低于EEPROM 写操作所需 要的最低电压;二是CPU 本身已经无法正常工作。 EEPROM 数据损坏的问题可以通过以下方法解决: |
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ATmega128 EEPROM数据存储器
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